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针对RoHS检测设计开发;测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳;分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ;提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析.

采用上先进的由美国生产的半导体制冷的型探测器，电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。

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Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量.